Number of found documents: 34
Published from to

Realizace nového optického tenkovrstvého ochranného prvku
Hubička, Zdeněk; Čada, Martin; Olejníček, Jiří; Kšírová, Petra; Tvarog, Drahoslav; Houha, R.; Matulová, L.
2019 - Czech
Byl vyvinut nový ochranný optický prvek s polovodivou tenkou vrstvou, která měla definované elektrické a optické vlastnosti. A new optical protection element was developed with a semiconductor thin film with defined electrical and optical properties.\n Keywords: optical thin film; sputtering; semiconductor; impedance Available at various institutes of the ASCR
Realizace nového optického tenkovrstvého ochranného prvku

Byl vyvinut nový ochranný optický prvek s polovodivou tenkou vrstvou, která měla definované elektrické a optické vlastnosti....

Hubička, Zdeněk; Čada, Martin; Olejníček, Jiří; Kšírová, Petra; Tvarog, Drahoslav; Houha, R.; Matulová, L.
Fyzikální ústav, 2019

Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu – etapa 1
Fitl, Přemysl; Vrňata, M.; Fišer, L.; Novotný, Michal; Scholtz, V.; Vlček, J.; Tomeček, D.
2018 - Czech
Předmětem smluvního výzkumu bylo provedení rešerše principu funkce pamětí typu flash aktuálně dostupných na trhu. Souhrnná výzkumná zpráva popisuje technologický pokrok v jejich vývoji, možnosti vyčítání uložených/smazaných dat dostupnými laboratorními technikami a interakci těchto pamětí s elektromagnetickým pulzem.\nVýstup byl předán zástupcům NÚKIB dne 29.3.2018. Projekt byl splněn, za vypracování této zprávy byla fakturována sjednaná částka.\n\n The subject of this contractual research was to perform study of technologies and principles of flash memories currently available on the market. The research report focuses on technological advancements in their development, the readability of stored / deleted data by available laboratory techniques, and the interaction of these memories with the electromagnetic pulse.\nThe outcome was handed over to NUKIB representatives on 29 March 2018. \nThe project was fulfilled, the agreed amount was invoiced for this report.\n\n\n Keywords: flash memory; memory erasing; electromagnetic pulse Available at various institutes of the ASCR
Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu – etapa 1

Předmětem smluvního výzkumu bylo provedení rešerše principu funkce pamětí typu flash aktuálně dostupných na trhu. Souhrnná výzkumná zpráva popisuje technologický pokrok v jejich vývoji, možnosti ...

Fitl, Přemysl; Vrňata, M.; Fišer, L.; Novotný, Michal; Scholtz, V.; Vlček, J.; Tomeček, D.
Fyzikální ústav, 2018

Plazmatický povlakovací systém dlouhých elektricky vodivých trubic
Hubička, Zdeněk
2018 - Czech
Zpráva popisuje plazmatickou metodu využívající pulzní výboj v duté katodě pro povlakování dlouhých elektricky vodivých trubek. The report describes a plasma deposition method with pulsed hollow cathode for coatings of long electrically conductive tubes. Keywords: plasma; hollow cathode discharge; thin film Available at various institutes of the ASCR
Plazmatický povlakovací systém dlouhých elektricky vodivých trubic

Zpráva popisuje plazmatickou metodu využívající pulzní výboj v duté katodě pro povlakování dlouhých elektricky vodivých trubek....

Hubička, Zdeněk
Fyzikální ústav, 2018

Hybridní reaktivní HiPIMS depoziční systém s pro depozicioptických funkčních vrstev na bázi oxidů kovů
Hubička, Zdeněk; Čada, Martin; Olejníček, Jiří; Kšírová, Petra; Tvarog, Drahoslav
2018 - Czech
Zpráva popisuje hybridní reaktivní HiPIMS depoziční systém s pro depozici optických funkčních vrstev na bázi oxidů kovů s definovanými optickými vlastnostmi. The report describes a hybrid reactive HiPIMS deposition system for the deposition of functional metal oxide thin films with defined optical properties. Keywords: plasma; discharge; thin film; HiPIMS Available at various institutes of the ASCR
Hybridní reaktivní HiPIMS depoziční systém s pro depozicioptických funkčních vrstev na bázi oxidů kovů

Zpráva popisuje hybridní reaktivní HiPIMS depoziční systém s pro depozici optických funkčních vrstev na bázi oxidů kovů s definovanými optickými vlastnostmi....

Hubička, Zdeněk; Čada, Martin; Olejníček, Jiří; Kšírová, Petra; Tvarog, Drahoslav
Fyzikální ústav, 2018

Závěrečná zpráva z projektu - Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu
Fitl, Přemysl; Vrňata, M.; Fišer, L.; Novotný, Michal; Scholtz, V.; Vlček, J.; Tomeček, D.
2018 - Czech
Předmětem smluvního výzkumu byl teoretický rozbor a matematický model problematiky průniku elektromagnetického pulzu. Popis přípravy experimentu obsahující odpájení a odpouzdřování paměťových čipů, metodiky testování paměťových médií, stínění experimentu, stínění zkoumaného paměťového čipu, generování EMP, měření intenzity EMP. \nShrnutí výsledků provedeného experimentu.\nSouhrnná výzkumná zpráva byla předána zástupcům NUKIB dne 31.5.2018. \nZástupci NUKIB potvrdili převzetí zprávy. Oponentura výsledků projektu proběhla 27.6.2018 v budově NUKIB. Projekt byl splněn. Za vypracování této zprávy byla fakturována sjednaná částka.\n\n\n The subject of this contractual research was the theoretical analysis and the mathematical model of the problem of electromagnetic pulse penetration and involvement of storage function of the memory chips. The report includes description of the experimental preparation memory chip, methodology of memory media testing, experiment shielding, software scanning of the memory chip, EMP generation, EMP intensity measurement. \nSummary of results of experiments of EMP influence on the memory media.\nA comprehensive research report was handed over to NUKIB representatives on 31 May 2018. NUKIB representatives confirmed receipt of the report. \nDefense of the project results took place on 27.6.2018 in the NUKIB building. Project goals were fulfilled. The agreed amount was invoiced for this report.\n\n Keywords: flash memory; memory erasing; electromagnetic pulse Available at various institutes of the ASCR
Závěrečná zpráva z projektu - Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu

Předmětem smluvního výzkumu byl teoretický rozbor a matematický model problematiky průniku elektromagnetického pulzu. Popis přípravy experimentu obsahující odpájení a odpouzdřování paměťových čipů, ...

Fitl, Přemysl; Vrňata, M.; Fišer, L.; Novotný, Michal; Scholtz, V.; Vlček, J.; Tomeček, D.
Fyzikální ústav, 2018

Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016
Mates, Tomáš; Fejfar, Antonín; Ledinský, Martin; Vetushka, Aliaksi; Pikna, Peter; Bauerová, Pavla
2017 - Czech
Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie byly vyhodnocovány vazby ve vzorcích pro bližší určení strukturních variací a povrchových modifikací, a to jak pro čerstvě připravené vzorky, tak zejména pro vzorky které prošly různými zátěžovými testy.\nSkenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) byla zkoumána povrchová struktura vrstev v různých místech vzorků a vyhledávána vhodná testovací místa pro následnou analýzu pomocí Mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n Samples of protective layers based on DLC (Diamond-like-Carbon) on different substrates (test bodies and real components) were studied by several diagnostic methods.\nRaman spectroscopy was used for the detection of bindings in order to specify the structural variations, surface modifications both for as-deposited samples and particularly for samples that underwent different stress tests.\nScanning Electron Microscope (SEM) was used to examine the surface structure of layers in different locations on the sample and to search suitable test spots for the subsequent analysis by the Atomic Force Microscope (AFM). AFM in special modes was employed to measure the maps local mechanical properties (friction, tip adhesion, energy dissipation, etc.).\nOn a selected sample, the cross-sectional structure of the sample was analysed by the Focussed Ion Beam (FIB) and the elemental composition in various thicknesses was documented by the Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n Keywords: diamond like carbon layers; Raman spectroscopy; Atomic Force Microscopy; Scanning Electron Microscopy; Focussed Ion Beam; Energy Dispersive Spectroscopy Available at various institutes of the ASCR
Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016

Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie ...

Mates, Tomáš; Fejfar, Antonín; Ledinský, Martin; Vetushka, Aliaksi; Pikna, Peter; Bauerová, Pavla
Fyzikální ústav, 2017

Příprava vzorků pro kalibraci zvětšení elektronových mikroskopů / 2016
Olejník, Kamil
2016 - Czech
Zabývali jsme se litografickou přípravou vzorků používaných pro kalibraci zvětšení elektronových mikroskopů.We have been working on lithographical preparation of specimens used for magnification calibration of electron microscopes. We have been working on lithographical preparation of specimens used for magnification calibration of electron microscopes.\n Keywords: electron microscope calibration; electron-beam lithography Available at various institutes of the ASCR
Příprava vzorků pro kalibraci zvětšení elektronových mikroskopů / 2016

Zabývali jsme se litografickou přípravou vzorků používaných pro kalibraci zvětšení elektronových mikroskopů.We have been working on lithographical preparation of specimens used for magnification ...

Olejník, Kamil
Fyzikální ústav, 2016

Micro-Raman analysis of samples irradiated at the FLASH facility in Summer 2014 (Report v1-31_05_2016)
Toufarová, Martina; Hájková, Věra; Chalupský, Jaromír; Juha, Libor
2016 - English
The goal of micro-Raman measurements was to indicate a presence of the carbon black grown in the FEL-illuminated areas on the sample surface. Twelve samples have been investigated and results have been reported to the X-ray Optics Group at the University of Twente. Keywords: radiation damage; carbon black; free-electron laser; soft x-rays; Raman spectroscopy Available at various institutes of the ASCR
Micro-Raman analysis of samples irradiated at the FLASH facility in Summer 2014 (Report v1-31_05_2016)

The goal of micro-Raman measurements was to indicate a presence of the carbon black grown in the FEL-illuminated areas on the sample surface. Twelve samples have been investigated and results have ...

Toufarová, Martina; Hájková, Věra; Chalupský, Jaromír; Juha, Libor
Fyzikální ústav, 2016

Plazmatická příprava kovových a oxidových vrstev na keramické a plastové substráty.
Olejníček, Jiří
2016 - Czech
Smluvní výzkum byl zaměřen na přípravu a optimalizaci procesu plazmatické depozice vybraných tenkých vrstev kovů a polovodivých oxidů s požadovanými optickými vlastnostmi. Cílem bylo připravit průhledné barevné electrochromické vrstvy na teplotně citlivé substráty, vrstvy s vysokým indexem lomu na lisované plastové struktury a lesklé kovové vrstvy na porézní keramické masky.\n Contract research was focused on preparation and optimization of the plasma deposition process of selected thin metal and semiconducting oxide layers with required optical properties. The goal was to prepare transparent color electrochromic films on thermally sensitive substrates, the layers with high refractive index on the surface of pressed plastic structures and shiny metallic films on the porous ceramic masks.\n Keywords: magnetron sputtering; thin films; surface properties Available at various institutes of the ASCR
Plazmatická příprava kovových a oxidových vrstev na keramické a plastové substráty.

Smluvní výzkum byl zaměřen na přípravu a optimalizaci procesu plazmatické depozice vybraných tenkých vrstev kovů a polovodivých oxidů s požadovanými optickými vlastnostmi. Cílem bylo připravit ...

Olejníček, Jiří
Fyzikální ústav, 2016

AlSb/InAsSb/AlSb deep QWs for the two band high temperature superlinear luminescence
Hulicius, Eduard; Hospodková, Alice; Pangrác, Jiří; Mikhailova, M.
2015 - English
InAlAsSb/GaSb based hetero-nanostructures with deep quantum wells grown on GaSb are promising materials for the optoelectronic devices for near- and mid-IR spectral regions. Optical power and quantum efficiency of the LEDs based on the narrow bandgap semiconductor compounds (InGa)(AsSb) are limited by the nonradiative Auger recombination. Earlier we have proposed a method to increase the optical power in the bulk narrow bandgap and later in GaSb-based nanostructures with a deep QW by the effect of impact ionization on the QW with high band offset. Keywords: quantum wells; luminescence; AlSb/InAsSb/AlSb Available at various institutes of the ASCR
AlSb/InAsSb/AlSb deep QWs for the two band high temperature superlinear luminescence

InAlAsSb/GaSb based hetero-nanostructures with deep quantum wells grown on GaSb are promising materials for the optoelectronic devices for near- and mid-IR spectral regions. Optical power and quantum ...

Hulicius, Eduard; Hospodková, Alice; Pangrác, Jiří; Mikhailova, M.
Fyzikální ústav, 2015

About project

NRGL provides central access to information on grey literature produced in the Czech Republic in the fields of science, research and education. You can find more information about grey literature and NRGL at service web

Send your suggestions and comments to nusl@techlib.cz

Provider

http://www.techlib.cz

Facebook

Other bases