Number of found documents: 1030
Published from to

SMV-2017-03: Planární mikrostruktury pro optické aplikace
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav
2017 - Czech
Vývoj planárních mikrostruktur pro optické aplikace a následná realizace vzorků metodou elektronové litografie. Projekt zahrnuje zpracování a analýzu technického zadání, návrh optimální planární mikrostruktury realizující požadované optické vlastnosti, výzkum a modelování možností fyzikální a technologické realizace mikrostruktur s ohledem na limity vědeckých přístrojů, kterými disponujeme ve své laboratoři, přípravu datových vstupů pro expozici na elektronovém litografu, vlastní realizaci vzorků, vyhodnocení těchto vzorků a zpracování technické dokumentace. Development in the field of planar microstructures for optical applications, physical realization of structures by means of electron beam lithography. The project covers the processing and analysis of the graphical motive, research and application of planar microstructures performing required optical properties, research and modeling of the physical possibilities of implementation of microstructures, regard to the limits of current scientific instruments in our laboratory, data preparation for e-beam lithography exposure, samples exposure, verification of properties of samples and technical documentation preparation. Keywords: planar; microstructures; optics; e-beam lithography Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-03: Planární mikrostruktury pro optické aplikace

Vývoj planárních mikrostruktur pro optické aplikace a následná realizace vzorků metodou elektronové litografie. Projekt zahrnuje zpracování a analýzu technického zadání, návrh optimální planární ...

Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-05: Vývoj matrice pro NIL
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav
2017 - Czech
Výzkum a vývoj v oblasti fyzikální realizace grafických a optických struktur prostředky elektronové litografie v záznamovém materiálu neseném skleněnou deskou. Research and development in the field of physical realization of transparent and opaque optical structures by means of electron beam lithography in a recording material supported by a glass substrate. Keywords: NIL; e-beam lithography Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-05: Vývoj matrice pro NIL

Výzkum a vývoj v oblasti fyzikální realizace grafických a optických struktur prostředky elektronové litografie v záznamovém materiálu neseném skleněnou deskou....

Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav
Ústav přístrojové techniky, 2017

Fluorescence a povrchem zesílená Ramanova spektroskopie v mikrofluidice pro monitorování enzymatických reakcí
Pilát, Zdeněk; Šmatlo, Filip; Ježek, Jan; Krátký, Stanislav; Zemánek, Pavel
2017 - Czech
Realizovali jsme dva různé systémy detekce koncentrace molekul v mikrofluidních systémech. První způsob využívá optická vlákna a detekuje intenzitu fluorescence, zatímco druhá metoda spočívá v užití povrchem zesílené Ramanovy spektroskopie (surface enhanced Raman spectroscopy, SERS). We have implemented two different systems for detecting the concentration of molecules in microfluidic systems. The first method uses optical fibers and detects the intensity of fluorescence, while the second method is using surface enhanced Raman spectroscopy (SERS). Keywords: optofluidics; biofotonics Available at various institutes of the ASCR
Fluorescence a povrchem zesílená Ramanova spektroskopie v mikrofluidice pro monitorování enzymatických reakcí

Realizovali jsme dva různé systémy detekce koncentrace molekul v mikrofluidních systémech. První způsob využívá optická vlákna a detekuje intenzitu fluorescence, zatímco druhá metoda spočívá v užití ...

Pilát, Zdeněk; Šmatlo, Filip; Ježek, Jan; Krátký, Stanislav; Zemánek, Pavel
Ústav přístrojové techniky, 2017

Laserový standard pro metrologii délky a času
Pravdová, Lenka; Hrabina, Jan; Čížek, Martin; Číp, Ondřej
2017 - Czech
Předkládaná práce popisuje vývoj a dosažené parametry laserového standardu přesného optického kmitočtu pracujícího v IR spektrálním pásmu (okolí 1540 nm). Úkolem bylo vyvinout stabilní a robustní laserový systém umožňující nasazení nejen ve vědeckých a metrologických laboratořích, ale dovolující i distribuci přesných signálů po stávajících telekomunikačních optických spojích do cílových aplikací v průmyslu. We present the development and the achieved parameters of the telecom C-band optical frequency laser standard. Compact and robust laser system based on ultra-narrow linewidth fiber laser achieves relative frequency stabilities from 9e-13/1s down to 8e-14/256s levels and can serve as stable frequency source for applications of dissipation of precise time and frequency, wavelength calibrations in optical telecommunication or laser interferometry measurement systems. Keywords: length and time metrology; laser standards; optical frequency stabilization; acetylene Available at various institutes of the ASCR
Laserový standard pro metrologii délky a času

Předkládaná práce popisuje vývoj a dosažené parametry laserového standardu přesného optického kmitočtu pracujícího v IR spektrálním pásmu (okolí 1540 nm). Úkolem bylo vyvinout stabilní a robustní ...

Pravdová, Lenka; Hrabina, Jan; Čížek, Martin; Číp, Ondřej
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-09: Výzkum a vývoj elektrického vakuového konektoru
Zobač, Martin; Vlček, Ivan; Dupák, Libor
2017 - Czech
Předmětem projektu byl výzkum a vývoj elektrického vakuového konektoru. Výsledkem projektu byl návrh uspořádání konektoru a technologie výroby skleněných zátavů. Technologie byla testována na řadě vzorků. The project dealt with research and development of an electric vacuum connector. The outcome of the project was design layout of the connector and the technology to produce glass seals. Technology was tested on series of samples. Keywords: vacuum connector Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-09: Výzkum a vývoj elektrického vakuového konektoru

Předmětem projektu byl výzkum a vývoj elektrického vakuového konektoru. Výsledkem projektu byl návrh uspořádání konektoru a technologie výroby skleněných zátavů. Technologie byla testována na řadě ...

Zobač, Martin; Vlček, Ivan; Dupák, Libor
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-12: Vývoj elektroniky pro elektronovou mikroskopii
Zobač, Martin; Vlček, Ivan
2017 - Czech
Náplní je pokračování vývoje zdroje vysokého napětí pro prozařovací elektronový mikroskop včetně vývoje softwaru. The project deals with research and development of high voltage power supply for TEM including software development. Keywords: electronics; TEM; high voltage; power supply; software Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-12: Vývoj elektroniky pro elektronovou mikroskopii

Náplní je pokračování vývoje zdroje vysokého napětí pro prozařovací elektronový mikroskop včetně vývoje softwaru....

Zobač, Martin; Vlček, Ivan
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-14: Vývoj pájených a svařovaných spojů mechanických dílů elektronových mikroskopů
Zobač, Martin; Vlček, Ivan; Dupák, Libor
2017 - Czech
Předmětem řešeného projektu byl další výzkum a vývoj nerozebiratelných spojů kovových materiálů s využitím technologie svařování elektronovým svazkem a technologie vakuového pájení. Výsledkem projektu byly konkrétní technologické postupy pro konkrétní sestavy The subject of the project was further research and development of permanent joints of metallic materials by electron beam welding and vacuum brazing. The outcome of the project were specific technological procedures for the given assemblies. Keywords: electron beam welding; vacuum brazing Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-14: Vývoj pájených a svařovaných spojů mechanických dílů elektronových mikroskopů

Předmětem řešeného projektu byl další výzkum a vývoj nerozebiratelných spojů kovových materiálů s využitím technologie svařování elektronovým svazkem a technologie vakuového pájení. Výsledkem projektu ...

Zobač, Martin; Vlček, Ivan; Dupák, Libor
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-27: Charakterizace vzorků s deponovanými tenkými vrstvami
Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav
2017 - Czech
Vývoj planárních mikrostruktur pro optické aplikace, realizace vzorků metodou elektronové litografie a následná charakterizace vzorků. Projekt zahrnuje zpracování a analýzu technického zadání, návrh optimální planární mikrostruktury realizující požadované vlastnosti, výzkum a modelování možností fyzikální a technologické realizace mikrostruktur s ohledem na limity vědeckých přístrojů, kterými disponujeme ve své laboratoři, přípravu datových vstupů pro expozici na elektronovém litografu, vlastní realizaci vzorků, vyhodnocení těchto vzorků a zpracování technické dokumentace. Development in the field of planar microstructures for optical applications, physical realization of structures by means of electron beam lithography and characterization of the samples. The project covers the processing and analysis of the graphical motive, research and application of planar microstructures performing required properties, research and modeling of the physical possibilities of implementation of microstructures, regard to the limits of current scientific instruments in our laboratory, data preparation for e-beam lithography exposure, samples exposure, verification of properties of samples and technical documentation preparation. Keywords: thin layers; microstructures; optics; e-beam lithography Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-27: Charakterizace vzorků s deponovanými tenkými vrstvami

Vývoj planárních mikrostruktur pro optické aplikace, realizace vzorků metodou elektronové litografie a následná charakterizace vzorků. Projekt zahrnuje zpracování a analýzu technického zadání, návrh ...

Horáček, Miroslav; Kolařík, Vladimír; Matějka, Milan; Krátký, Stanislav; Chlumská, Jana; Meluzín, Petr; Král, Stanislav
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-26: Upgrade aparatury Spaceman – kapacitní systém měření tloušťky vzorku
Králík, Tomáš
2017 - Czech
Cílem smluvního výzkumu navazujícího na předchozí spolupráci byla přestavba aparatury Spaceman, tak aby bylo možné získat nová data o prokladech mnohovrstvých izolací. Proklad je tenká tkaná i netkaná textilie ze skelných, organických i přírodních vláken. Aparatura Spaceman měří tok tepla napříč vzorkem spaceru ve vakuu při teplotách v rozmezí 10 K až 290 K a různém stlačení vzorku. Na vzorku je vždy teplotní spád typicky 5 K. V rámci smluvního výzkumu byla aparatura upravena o systém měření tloušťky vzorku in situ metodou měření elektrická kapacity mezi vodivými kontaktními povrchy. Tato úprava zahrnovala částečné rozebrání aparatury, úpravu nebo výměnu některých dílů, navaření nové vakuové průchodky do víka aparatury, vývoj a instalaci elektroniky do vakuového prostoru. Elektronika je v teplé horní části aparatury a elektrická kapacita vzorku je měřena v komoře přes speciální velmi tenký koaxiální kabel. Elektronika dokáže vyloučit z měření vlastní kapacitu kabelu. Upraven byl také původní software v Labview. Vylepšená aparatura byla otestována a bylo provedeno několik srovnávacích měření. Aparatura nyní umožňuje měřit nejen tepelnou vodivost za různých teplot a zatížení, ale i změny tloušťky vzorku v důsledku teplotních dilatací a zatížení, tedy i pružnost vzorku v závislosti na teplotě od 10 K do 290 K. The goal of this research cooperation, which is follow- up of the previous cooperation, was an upgrade of the apparatus Spaceman. The upgrade enables to obtain new data of the spacers used in the multilayer insulations. The spacer can be woven or non-woven textile made of glass, plastic or natural fibres. The apparatus Spaceman measures heat flow through a sample of the spacer in the range from 10 K to 290 K in vacuum. The temperature drop on the sample is typically 5 K. The apparatus was enhanced by a system for measurement of the in-situ sample thickness from evaluation of the electrical capacity between electrically conductive contact surfaces. The upgrade was done by particular disassembling of the apparatus, modification or exchange of some parts, welding of a new vacuum feed trough in the apparatus lid, development and installation of a new electronic in the vacuum space. The electronic is placed in the upper part of the apparatus at room temperature and the electrical capacitance is measured by a special cryogenic coaxial cable. The electronic is able to cancel a parasitic capacitance of the cable. Some modifications were done on the Labview control software developed for the apparatus. The apparatus now enables to measure not only the thermal conductivity at various temperatures and loads but also changes of the sample thickness due to thermal dilatations and loads. It is also possible to evaluate an elastic behaviour of the sample at temperatures from 10 K to 290 K. Keywords: thermal radiation; thermal conductivity; low temperature Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-26: Upgrade aparatury Spaceman – kapacitní systém měření tloušťky vzorku

Cílem smluvního výzkumu navazujícího na předchozí spolupráci byla přestavba aparatury Spaceman, tak aby bylo možné získat nová data o prokladech mnohovrstvých izolací. Proklad je tenká tkaná i netkaná ...

Králík, Tomáš
Ústav přístrojové techniky, 2017

SMV-2017-28: Zkoumání lokálních mikrostrukturních změn vyvolaných dynamickou indentací nanolaminovaných vrstev
Sobota, Jaroslav
2017 - Czech
Na našem pracovišti byla zvládnuta technologie testování povrstvených materiálů namáhaných v dynamickém režimu na impaktním testeru vlastní konstrukce. Testování představuje identifikaci mechanismů deformace a porušení při indentačním testu nanostrukturovaných a nanolaminovaných povlaků, detailní interpretaci závislostí síla-hloubka v kontextu pozorovaných mikrostrukturních změn, a výsledků počítačového modelování nanoindentace. Method of analysis of the coated materials under dynamic impact load was performed using impact tester developed at the Institute of Scientific Instrumentation in Brno. Dynamical impact testing leads to identification of deformation and fatigue mechanisms of nanostructured and nanolaminated coatings. The impact force-imprint depth dependencies were interpreted with respect to the coating microstructure and computed simulation of indentation. Keywords: dynamic indentation; nanolaminate coatings Available at various institutes of the ASCR
SMV-2017-28: Zkoumání lokálních mikrostrukturních změn vyvolaných dynamickou indentací nanolaminovaných vrstev

Na našem pracovišti byla zvládnuta technologie testování povrstvených materiálů namáhaných v dynamickém režimu na impaktním testeru vlastní konstrukce. Testování představuje identifikaci mechanismů ...

Sobota, Jaroslav
Ústav přístrojové techniky, 2017

About project

NRGL provides central access to information on grey literature produced in the Czech Republic in the fields of science, research and education. You can find more information about grey literature and NRGL at service web

Send your suggestions and comments to nusl@techlib.cz

Provider

http://www.techlib.cz

Facebook

Other bases