Ne (153)
Ano (1)
Počet nalezených dokumentů:
154
Publikováno od
do
Příprava a charakterizace vybraných optických materiálů
Hulicius, Eduard
2013 - český
Optimalizovali jsme krystalovou strukturu a technologii přípravy, abychom získali lepší parametry PL a RL a také homogenity struktury. Měřili a vyhodnotili jsme strukturní a optické parametry; byl diskutován jejich vliv na charakteristiky krystalu. Navrhli jsme nový vylepšený materiál. P.W = vlnová délka maxima; P.I = intenzita maxima; FWHM = šířka v polovině výška maxima; D.W = dominantní vlnová délka; I.W = integrální vlnová délka; I.I = integrovaná intenzita; R.F = reflektivita; T.H = tloušťka byly změřeny. Crystal structure and technology procedure was optimized to obtained better parameters of PL and RL as well as homogeneity of structure. Structural and optical parameters were measured and evaluated; their influence on crystal characteristics was discussed. New improved material was proposed. P.W = Peak wavelength; P.I = Peak intensity; FWHM = Full With in Half Maximum; D.W = dominant wavelength; I.W = integral w.; I.I = integrated intensity; R.F = reflectivity; T.H = thickness were measured.
Klíčová slova:
optical crystals; photoluminescence; radioluminescence; X-ray diffraction
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Příprava a charakterizace vybraných optických materiálů
Optimalizovali jsme krystalovou strukturu a technologii přípravy, abychom získali lepší parametry PL a RL a také homogenity struktury. Měřili a vyhodnotili jsme strukturní a optické parametry; byl ...
Měření elektrických vlastností křemíkových nanostruktur s použitím mikroskopie atomárních sil
Hývl, M.; Fejfar, Antonín; Vetushka, Aliaksi
2013 - český
Mikroskop atomárních sil (AFM) je mimo jiné možné použít k měření lokálních změn povrchového potenciálu či lokální vodivosti. Právě tyto vlastnosti jsou obzvláště zajímavé při studiu křemíkových struktur určených k fotovoltaickým aplikacím, jako například polykrystalický křemík či křemíkové dráty. V článku budou popsány jednotlivé měřící metody a ukázány výsledky těchto měření. Atomic force microscopy (AFM) can be used to measure local surface potential or local conductivity. These properties are very useful to characterize photovoltaic silicon nanostructures, such as polycrystalline silicon or silicon nanorods. In this article, we demonstrate these methods and show the results of our measurements.
Klíčová slova:
AFM; photovoltaics; polycrystalline silicon; silicon nanowires
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Měření elektrických vlastností křemíkových nanostruktur s použitím mikroskopie atomárních sil
Mikroskop atomárních sil (AFM) je mimo jiné možné použít k měření lokálních změn povrchového potenciálu či lokální vodivosti. Právě tyto vlastnosti jsou obzvláště zajímavé při studiu křemíkových ...
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
Malachov, Martin; Jäger, Aleš
2013 - český
Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem prezentace je vysvětlit princip SEM-EBSD, demonstrovat jeho možnosti a nastínit jeho využití při analýze hranic zrn v polykrystalickém materiálu. Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work is to explain electron back-scatter diffraction (EBSD) technique and its utilization in grain characterization of polycrystalline materials.
Klíčová slova:
EBSD; crystalography; grain boundary
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem ...
Využití kontaktního profiloměru k měření rozměrových změn kovových vzorků po laserovém opracování
Hiklová, Helena; Chmelíčková, Hana; Havelková, Martina; Řiháková, Lenka
2013 - český
V příspěvku je uvedeno několik konkrétních příkladů využití kontaktního profiloměru firmy Taylor Hobson pro mapování povrchu kovových vzorků zpracovaných moderními technologiemi laserového kalení a přetavování, kdy vlivem změn původní krystalografické struktury dojde k objemovým změnám v místě interakce laserového svazku s materiálem. Pro přesné měření těchto rozměrových a objemových změn se ukazuje kontaktní profiloměr jako nejlepší řešení. The paper presents several specific examples of the use of contact profilometer Taylor Hobson. It is used here for mapping of the metal surface samples after laser hardening and remelting. There is a change in the volume of the sample after laser material processing. The contact profilometer seems to be the best choice for measuring of modification of volume and dimensions.
Klíčová slova:
contact measuring; surface roughness; surface mapping; laser treatment
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Využití kontaktního profiloměru k měření rozměrových změn kovových vzorků po laserovém opracování
V příspěvku je uvedeno několik konkrétních příkladů využití kontaktního profiloměru firmy Taylor Hobson pro mapování povrchu kovových vzorků zpracovaných moderními technologiemi laserového kalení a ...
Použití difrakce odražených elektronů
Kopeček, Jaromír
2012 - český
Příspěvek popisuje použití difrakce zpětně odražených elektronů. The contribution describe the application of Electron back-scattered diffraction
Klíčová slova:
EBSD method; scanning electron microscopy
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Použití difrakce odražených elektronů
Příspěvek popisuje použití difrakce zpětně odražených elektronů.
The contribution describe the application of Electron back-scattered diffraction
Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu bóru v Si deskách
Holovský, Jakub; Remeš, Zdeněk
2012 - český
Byla navržena, teoreticky analyzována, realizována jak po stránce výpočetní, tak po stránce experimentální a nakonec úspěšně odzkoušena nová metoda určování difúzních profilů rychle, nedestruktivně a bezkontaktně pomocí infračervené reflexe. A new method of determination of diffusion profiles in fast, not destructive and contactless (with help of infra-red reflexion) way was designed, theoretically analysed, realized either in computational and in experimental field and finally successfully tested.
Klíčová slova:
silicon substrate; boron concentration profile; IR reflection; UV ellipsometry
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu bóru v Si deskách
Byla navržena, teoreticky analyzována, realizována jak po stránce výpočetní, tak po stránce experimentální a nakonec úspěšně odzkoušena nová metoda určování difúzních profilů rychle, nedestruktivně a ...
Pasivace poly-Si tenkovrstvých solárních článků ve vodní páře
Pikna, Peter; Fejfar, Antonín
2012 - český
Vzorky polykrystalických křemíkových (poly-Si) solárních článků vyrobené firmou CSG Solar byly pasivovány ve vodní páře. Solární články po pasivaci připomínaly svým vzhledem články leptané ve směsi kyselin běžně používané na odstranění vrchní p+ vrstvy pro kontaktování spodní n+ vrstvy. Ačkoliv nebylo pozorováno výraznější zlepšení napětí naprázdno Voc, leptací efekt poly-Si ve vodě může stanovit horní hranice teploty, tlaku a doby vhodné pro pasivaci s minimálním negativním dopadem na článek. V neposlední řadě je prezentován také inovativní způsob kontaktování spodní n+ vrstvy na skle pro měření volt-ampérových charakteristik Suns-Voc metodou. Samples of thin film polycrystalline silicon solar cells prepared by the Company CSG Solar AG were treated in water vapour. Appearance of treated solar cells was very similar to samples etched in a solution of acids, which is commonly used to approach the bottom part of pn junction. No significant improvement of measured open-circuit voltage Voc was observed, but the etching effect of water vapour can determine the upper limit of temperature, pressure and treatment time for water vapour passivation. Novel approach for preparation of a depth profile to approach the bottom part of pn junction is proposed.
Klíčová slova:
thin film; solar cell; polycrystalline silicon; water vapour; grain boundary; Suns-Voc
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Pasivace poly-Si tenkovrstvých solárních článků ve vodní páře
Vzorky polykrystalických křemíkových (poly-Si) solárních článků vyrobené firmou CSG Solar byly pasivovány ve vodní páře. Solární články po pasivaci připomínaly svým vzhledem články leptané ve směsi ...
Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu fosforu v Si deskách
Holovský, Jakub; Remeš, Zdeněk
2012 - český
Byla navržena, teoreticky analyzována, realizována jak po stránce výpočetní, tak po stránce experimentální a nakonec úspěšně odzkoušena nová metoda určování difúzních profilů rychle, nedestruktivně a bezkontaktně pomocí infračervené reflexe. A new method of determination of diffusion profiles in fast, not destructive and contactless (with help of infra-red reflexion) way was designed, theoretically analysed, realized either in computational and in experimental field and finally successfully tested.
Klíčová slova:
silicon substrate; phosphorus concentration profile; IR reflection; IR ellipsometry
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Metodika nedestruktivního určení koncentračního profilu fosforu v Si deskách
Byla navržena, teoreticky analyzována, realizována jak po stránce výpočetní, tak po stránce experimentální a nakonec úspěšně odzkoušena nová metoda určování difúzních profilů rychle, nedestruktivně a ...
Fyzikální princip laserů
Chmelíčková, Hana
2011 - český
Laser je generátor monochromatického a koherentního záření s nízkou rozbíhavostí. Podstatou jeho činnosti je stimulovaná emise záření ve vhodném aktivním prostředí, které je umístěno v ose optického rezonátoru. Laser as generator of monochromatic, coherent radiation with low divergence is widely used in industrial systems that are equipped by manipulating devices, processing gasses and safety elements.
Klíčová slova:
lasers
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Fyzikální princip laserů
Laser je generátor monochromatického a koherentního záření s nízkou rozbíhavostí. Podstatou jeho činnosti je stimulovaná emise záření ve vhodném aktivním prostředí, které je umístěno v ose optického ...
Testování tepelného a radiačního zkřehnutí reaktorové oceli 15Ch2MFA
Dvořáková, M.; Kadlecová, Jana; Konop, R.; Tomáš, Ivan; Vértesy, G.
2011 - český
Předkládáme výsledky destruktivního mechanického a nedestruktivního magnetického testování oceli 15Ch2MFA pro tlakové nádoby reaktorů typu VER440. K testům byl použity (i) vzorky, jejichž zkřehnutí bylo dosaženo speciálním tepelným zpracováním a (ii)vzorky, jejichž zkřehnutí bylo zůsobeno vysokými dávkami neutronového záření v reaktoru. Srovnáváme výsledky destruktivních zkoušek vrubové houževnatosti s výsledky Magnetického adaptivního testování vzorků obou sérií. Existence vzájemné korelace mezi oběma typy zkoušení ukazuje možnost nahradit klasické svědečné vzorky pro destruktivní mechanické zkoušky sérií vzorků pro zkoušky magnetické, které jsou nedestruktivní. Results are presented of mechanical destructive and magnetic nondestructive tests of the 15Ch2MFA steel, used for pressure vessels of the VVER40 reactor type. Two series of samples were tested: (i) samples, embrittled by a special thermal processing, and (ii)samples, embrittled in a reactor by high fluences of neutron radiation. Results of mechanical impact Charpy tests are compared with results of Magnetic Adaptive Testing carried out on the two sample series. The existence of mutual correlation between the two types of examination indicates alternative of replacement of the mechanical destructive tests of classical surveillance samples by magnetic tests, which are nondestructive.
Klíčová slova:
degradation of steel by neutron irradiation; pressure vessels of nuclear reactors; magnetic non-destructive testing; Magnetic Adaptive Testing; Charpy tests
Plné texty jsou dostupné na jednotlivých ústavech Akademie věd ČR.
Testování tepelného a radiačního zkřehnutí reaktorové oceli 15Ch2MFA
Předkládáme výsledky destruktivního mechanického a nedestruktivního magnetického testování oceli 15Ch2MFA pro tlakové nádoby reaktorů typu VER440. K testům byl použity (i) vzorky, jejichž zkřehnutí ...
NUŠL poskytuje centrální přístup k informacím o šedé literatuře vznikající v ČR v oblastech vědy, výzkumu a vzdělávání. Více informací o šedé literatuře a NUŠL najdete na webu služby.
Vaše náměty a připomínky posílejte na email nusl@techlib.cz
Provozovatel
Zahraniční báze