No (282)
Used filters
(4)
Number of found documents:
282
Published from
to
Elektronika pro redukci šumu laserové diody s využitím nevyváženého vláknového interferometru
Čížek, Martin; Šmíd, Radek; Číp, Ondřej
2014 - Czech
Měření délkových změn optických rezonátorů zpravidla vyžaduje použití laserů s úzkou spektrální šířkou. Pro sledování celého rozsahu délkových změn je zapotřebí laser s velkou přeladitelností. Zdroje laserového záření založené na DFB laserových diodách disponují velkým rozsahem přeladění, jejich nevýhodou je však šířka čáry v řádu až jednotek MHz. Obvyklý způsob zužování čáry laserové diody spočívá v elektronické stabilizaci její vlnové délky podle etalonové rezonátorové kavity např. metodou PDH. Tím však ztrácíme přeladitelnost. Řešení nabízí metoda redukce frekvenčního šumu laserové diody využívající jako etalon nevyvážený vláknový Michelsonův interferometr. Referenční rameno interferometru je tvořeno krátkým úsekem optického vlákna zakončeného Faradayovým zrcadlem. Měřicí rameno interferometru je tvořeno cívkou optického vlákna, jejíž délka je zvolena na základě počáteční šířky čáry nestabilizované laserové diody, a Faradayovým zrcadlem. Measuring length changes of optical resonators requires using of lasers with a narrow spectral width. Moreover, for tracking a whole range of possible lengths a widely-tunable laser is required. Laser sources based on DFB laser diodes have a wide optical frequency tuning range, however their spectral linewidth is up to single MHz. The usual way of narrowing the linewidth is based on stabilizing the wavelength of the laser by locking it on an etalon resonator cavity using for example a PDH setup. This of course leads to losing the tunability. We present a different approach where an unbalanced fiber Michelson interferometer with a measuring arm formed of a long optical fiber spool is used as a an optical frequency discriminator. The output electrical signal from the photodetector proportional to the optical frequency changes is used in a fast servo loop. The controller slightly detunes the laser diode by adjusting its pump current and locks optical frequency changes to a zero value. This leads to reducing the sideband noise of the laser by up to 60 dB. The whole method is independent on the actual wavelength of the laser and works in the whole tuning range of the DFB diode.
Keywords:
frequency noise reduction; interferometry; fiber optics; analog and digital electronics; RF signal processing; environmental effects
Available at various institutes of the ASCR
Elektronika pro redukci šumu laserové diody s využitím nevyváženého vláknového interferometru
Měření délkových změn optických rezonátorů zpravidla vyžaduje použití laserů s úzkou spektrální šířkou. Pro sledování celého rozsahu délkových změn je zapotřebí laser s velkou přeladitelností. Zdroje ...
Studium chování proudění vzduchu přes délkový šum při interferometrickém měření
Holá, Miroslava
2014 - Czech
Měřit s nanometrovou přesností je v posledních deseti letech klíčová výzva, které se objevila v oblasti metrologie délky. Mezinárodní projekt s názvem „NANOTRACE“, který sdružuju renomované laboratoře EU, se snažil prolomit limity rozlišení v laserové interferometrii. Metody, které byly zkoumané, prokázaly, že lze dosáhnout významného zlepšení v rozlišení laserové interferometrie. Navrhované nanometrologické systémy si kladou za cíl zvýšit rozlišení a najít cesty, jak potlačit zdroje nejistot v měření a to do subnanometrové oblasti. Za předpokladu měření v atmosféře patří fluktuace indexu lomu vzduchu mezi největší zdroje nejistot při interferometrickém měření. Měření polohy v omezeném rozsahu je typické pro souřadnicové měřící systémy. V nanometrologii je takovým standardem mikroskop skenující sondou s přesným odměřováním polohy. Proto jsme se rozhodli rozšířit koncept kompenzace fluktuací indexu lomu vzduchu přes sledování optické délky uvnitř měřícího rozsahu interferometru měřícího vzdálenost. Námi navržený systém je kombinací refraktometru spolu s interferometrem kde v prvním případě vyhodnocujeme úroveň nejistoty délkového šumu dvou měřících svazků, který představuje fluktuace indexu lomu vzduchu. A v druhém případě jsme se zabývali změnami indexu lomu (délkového šumu) v závislosti na změně měřícího ramene. Nanoscale measurement became one of the key challenges in the field of metrology in last ten years. The international project launched called “Nanotrace” where renowned EU laboratories including the proposer of this project were trying to break the limits of resolution in interferometry. Techniques investigated here have proven that there are chances to achieve significant improvements in resolution of laser interferometry. Measurement of position within a limited range is typical for coordinate measuring system such as nanometrology standards combining scanning probe microscopy (SPM) with precise positioning. In this contribution we evaluate the level of uncertainty associated with spatial shift of two measuring beams and spatial shift of one measuring beam (change of length the measuring beam). Consequently the nature of the fluctuations of the refractive index of air in laser interferometry is investigated anddiscussed with the focus on potential applications in coordinate measuring systems and long-range metrological scanning pro microscopy systems.
Keywords:
interferometry; refractive index of air; nanometrology
Available at various institutes of the ASCR
Studium chování proudění vzduchu přes délkový šum při interferometrickém měření
Měřit s nanometrovou přesností je v posledních deseti letech klíčová výzva, které se objevila v oblasti metrologie délky. Mezinárodní projekt s názvem „NANOTRACE“, který sdružuju renomované laboratoře ...
Interferometrický systém pro souřadnicové odměřování
Lazar, Josef; Holá, Miroslava; Hrabina, Jan; Oulehla, Jindřich; Číp, Ondřej; Vychodil, M.; Sedlář, P.; Provazník, M.
2014 - Czech
Interferometrické měřicí systémy představují nejpřesnější nástroj pro měření geometrických veličin a to nejen z pohledu komerční dostupnosti na trhu, ale z pohledu základní metrologie, fyzikálních principů a limitů a současné platné definice délky. Nalézají uplatnění všude, kde přesnost, rozlišení a také rozsah a dynamika měření představuje nejvyšší prioritu. Základní konfigurace laserového interferometru pro měření délek představuje laserový zdroj záření s vysokou koherencí se stabilizací frekvence, optika interferometru s polarizační separací svazků v měřicí a referenční dráze, detekční systém, elektronika a software pro zpracování a vyhodnocení signálů a systém pro kompenzaci vlivu indexu lomu prostředí. Konstrukce vlastního laserového zdroje vycházela z použitého laseru – Nd:YAG laseru se zdvojnásobením optické frekvence. Výstup z laseru je dělen na malou část využitou ke stabilizaci a většina je vyvedena do kolimátoru s příslušným počtem stupňů volnosti pro justáž vyvázání do optického vlákna. Kyveta z borosilikátového skla je součástí skříně. Její délka postačí díky silným absorpčním čarám na této vlnové délce malá. Má 10 cm a je ve skříni z prostorových důvodů umístěna rovnoběžně s laserem. Detekce absorpčních čar je realizována formou lineární absorpční spektroskopie. Navržené řešení využívá techniku pomalého ladění v okolí maxima absorpce s reverzací směru ladění v okamžiku poklesu detekované absorpce. Funkčnost základního uspořádání sestavy interferometrického měřicího systému byla ověřována na sestavě složené z části z komerčních optických komponentů. Sestavení funkčního interferometru obsahujícího všechny základní prvky, včetně stabilizovaného laseru, optiky a elektroniky bylo mimo jiné motivováno účastí spoluřešitele – firmy Meopta - optika, s.r.o. na veletrhu LASER 2013 v Mnichově. We present interferometric system based on a frequency stabilised Nd:YAG laser. The detection of absorption lines uses techniques of the linear absorption with slow sweeping across detected absorption.
Keywords:
coherent interferometry; laser
Available at various institutes of the ASCR
Interferometrický systém pro souřadnicové odměřování
Interferometrické měřicí systémy představují nejpřesnější nástroj pro měření geometrických veličin a to nejen z pohledu komerční dostupnosti na trhu, ale z pohledu základní metrologie, fyzikálních ...
Stanice pro LIDT testy optických komponentů při kryogenních teplotách
Oulehla, Jindřich
2014 - Czech
Na Ústavu přístrojové techniky jsme se začali zabývat přípravou vrstev, které mohou být použity na optických komponentech ve vysokovýkonových laserových zařízeních. V takovýchto zařízeních jsou instalovány diodami čerpané pevnolátkové pulsní lasery (DPSSL) vyžadující použití různých optických komponentů schopných odolat poměrně vysokým hodnotám plošné hustoty energie. Při provozu takovýchto laserů vzniká velké množství odpadního tepla a je tedy nutné použít kryogenní chlazení. Cílem naší snahy je zkompletování experimentální sestavy schopné testovat různé typy vzorků jak za pokojové, tak za kryogenní teploty. Pro tyto účely je v současné době kompletována experimentální sestava s vakuovou komorou, uvnitř které je umístěn testovaný vzorek a je tak chráněn před kontaminací. Jako zdroj laserového záření používáme Nd:YAG laser o vlnové délce 1064nm a maximální energii v pulsu cca 650mJ. Tyto experimenty jsou doplňkem k naší hlavní činnosti, jíž jsou návrh a výroba optických filtrů pomocí vakuového napařování interferenčních vrstev. Jsme schopni deponovat různé materiály v závislosti na aplikaci. Nejběžnější kombinací je TiO2/SiO2, dále používáme například Ta2O5, Al2O3, HfO2 a jiné. Aplikacemi jsou interferenční filtry pro viditelnou, blízkou UV a blízkou IR oblast světelného spektra. Jako příklady námi navrstvených filtrů lze uvést antireflexní vrstvy, barevné (dichroické) filtry, hradící a pásmové filtry, děliče světla, tepelné filtry, polarizátory, nepolarizující děliče, apod. Disponujeme zcela novou napařovací aparaturou od firmy Leybold Optics, která značně rozšířila naše stávající výrobní možnosti. Aparatura je vybavena dvěma elektronovými děly a dále pak iontovým zdrojem pro Plasma Ion Assisted Deposition. Díky této technologii jsme schopni deponovat například zrcadla s řízenou dispersí, monochromatické filtry nebo hradící filtry s velmi ostrou hranou. In this contribution we present a technology for deposition and testing of interference coatings for optical components designed to operate as in power pulsed lasers. We designed and are building a testing apparatus which will serve as an addition to our existing optical coating production facility. This allows us to prepare a coating which is then tested and the results might be used to optimize it. The test samples are placed in a vacuum chamber, cooled down to approximately 120K and Illuminated by a pulsed laser to determine laser damage threshold of the coatings under conditions similar to real life operation. Optical microscopy and spectrophotometer measurements are used for coating investigation after the conducted experiments.
Keywords:
LIDT; thin film coatings; e-beam evaporation; laser damage
Available at various institutes of the ASCR
Stanice pro LIDT testy optických komponentů při kryogenních teplotách
Na Ústavu přístrojové techniky jsme se začali zabývat přípravou vrstev, které mohou být použity na optických komponentech ve vysokovýkonových laserových zařízeních. V takovýchto zařízeních jsou ...
Interferometrický odměřovací systém pro elektronový litograf
Řeřucha, Šimon; Šarbort, Martin; Lazar, Josef; Číp, Ondřej
2014 - Czech
Spolehlivost zápisu rozsáhlých struktur pomocí elektronového litografu je do velké míry závislá na přesném řízení polohy posuvného stolku se substrátem. Typicky je pro tuto úlohu využíváno optického odměřování pomocí laserových interferometrů, které poskytuje požadovanou úroveň přesnosti. Této přesnosti dosahuje za cenu využití složité optické sestavy, která díky nárokům na přesnost a robustnost v důsledku představuje netriviální navýšení ceny elektronového litografu jako výsledného produktu. V rámci spolupráce jsme se zaměřili na návrh a ověření optimalizovaného měřicího systému, který poskytne srovnatelnou přesnost a zároveň bude robustnější a cenově efektivnější. Jádrem optimalizace je v zásadě přesun zpracování interferenčního signálu z optické oblasti do oblasti výpočetní. V našem případě se jedná zejména o využití alternativní interferometrické detekční techniky, která využívá kontinuálně frekvenčně modulovaný laserový zdroj v kombinaci se zjednodušeným optickým systém. Výstupem optické soustavy je v obou případech dvojice fázových signálů, které v kvadraturní formě reprezentují hodnotu interferenční fáze. Požadavky na odměřovací systém jsou následující: nejistota měření menší než 2,5 nm, rozsah měření 100 mm, odezva systému 10 kHz. Navíc je vyžadováno využití jiné než viditelné vlnové délky z důvodů interference se scintilátory litografu. Pro účely ověření metody je použita optická sestava. Jako zdroj je využit kompaktní laserový modul RIO Orion (Rio Redfern Integrated Optics Inc.), založený na stabilizované DFB diodě, frekvenčně modulovaný změnou čerpacího proudu. Výstup z interferometrické sestavy je snímán dvěma detekčními systémy: jedním je standardní homodynní detekce, druhým je nová testovaná metoda. Toto uspořádání umožňuje srovnat vyhodnocení různými detekčními technikami a přitom, díky sdílené optické trase, eliminovat vnější vlivy, které mohou mít na přesné vyhodnocení výrazný vliv. The reliability of nanometer track writing in the large scale chip manufacturing process depends mainly on a precise positioning of the e-beam writer moving stage. The laser interferometers are usually employed to control this positioning, but their complicated optical scheme leads to an expensive instrument which increases the e-beam writer’s manufacturing costs. We present a new design of an interferometric system useful in a currently developed cost effective e-beam writers. Our approach simplifies the optical scheme of known industrial interferometers and shifts the interference phase detection complexity from optical domain to the digital signal processing part. Besides the effective cost, the low number of optical components minimizes the total uncertainty of this measuring instrument. The scheme consists of a single wavelength DFB laser working at 1550 nm, one beam splitter, measuring and reference reflectors and one photo-detector at the interferometer output. The DFB laser is frequency modulated by slight changes of injection current while the interference intensity signal is processed synchronously. Our algorithm quantifies the phase as two sinusoidal waveforms with a phase offset equal to the quarter of the DFB laser wavelength. Besides the computation of these quadrature signals, the scale linearization techniques are used for an additional suppression of optical setup imperfections, noise and the residual amplitude modulation caused by the laser modulation. The stage position is calculated on basis of the DFB laser wavelength and the processed interference phase. To validate the precision and accuracy we have carried out a pilot experimental comparison with a reference interferometer over the 100 mm measurement range. The first tests promise only 2 nm deviation between simplified and the reference interferometer.
Keywords:
laser interferometry; nanometrology; homodyne detection; scale linearization; signal processing; e-beam writer; laser frequency modulation
Available at various institutes of the ASCR
Interferometrický odměřovací systém pro elektronový litograf
Spolehlivost zápisu rozsáhlých struktur pomocí elektronového litografu je do velké míry závislá na přesném řízení polohy posuvného stolku se substrátem. Typicky je pro tuto úlohu využíváno optického ...
Laserové standardy pro interferometrii a přenos přesných frekvencí
Hrabina, Jan
2014 - Czech
Reference optických kmitočtů – absorpční kyvety – představují unikátní nástroj k frekvenční stabilizaci laserů. V kombinaci s vhodně zvolenými detekčními metodami dovolují dosažení ultimátních vlastností laserových systémů a proto jsou pomocí laserové spektroskopie ve vybraných plynech definovány a realizovány laserové normály délky pracující na řadě vybraných optických kmitočtech. Při použití takto stabilizovaného laseru pro přesné měření vzdáleností (laserová interferometrie) je tak zaručena přímá metrologická návaznost měření na základní normál. S výrobou absorpčních kyvet má ÚPT AV ČR bohaté zkušenosti. Díky mnohaletému vývoji technologie přípravy a plnění superčistých absorpčních plynů patří toto pracoviště na první místo ve světové špičce tohoto oboru. Kyvety plněné nejrůznějšími absorpčními médii (I2, Cs, Rb, 13C2H2, vzácné prvky a další) dodáváme do metrologických institucí po celém světě. Optical frequency references - absorption cells - represent an unique tool for frequency stabilization of the laser sources. Their spectral properies define overall quality of the stabilized laser, so these properties must be precisely controlled and verified. One of the most used absorption media in the visible spectral range is molecular iodine. It offers wide and reach spectra of very narrow and strong transitions so many types of laser standards can be realized on base of this media. Testing of final properties of iodine absorption cells is traditionaly based on two methods - laser induced fluorescence method (LIF) and evaluation of absolute frequency shifts of the iodine stabilized laser (beatnote measurement). Unfortunately both of these methods have few limitations and disadvantages - in case of high-quality cells the LIF method reaches its resolution limits, the beatnote method needs quite complicated optical setup. We present a novel approach for the iodine cells quality evaluation based on measurement of hyperfine transition linewidths - the impurities in absorption media cause line broadening of the transitions. Pilot measurement shows that presented method achieves a very good sensitivity to the iodine purity and together with a need of relatively simple setup can be considered as a novel method for absorption cells quality verification.
Keywords:
laser standards; absorption cells; frequency stability; laser spectroscopy; optical frequency reference
Available at various institutes of the ASCR
Laserové standardy pro interferometrii a přenos přesných frekvencí
Reference optických kmitočtů – absorpční kyvety – představují unikátní nástroj k frekvenční stabilizaci laserů. V kombinaci s vhodně zvolenými detekčními metodami dovolují dosažení ultimátních ...
Elektronika pro stabilizaci optických frekvenčních hřebenů
Hucl, Václav; Čížek, Martin; Šmíd, Radek; Lazar, Josef; Číp, Ondřej
2014 - Czech
Většina experimentů využívajících optický hřeben (komb) vyžaduje frekvenční a fázové zavěšení repetiční frekvence frep a offsetové frekvence fCEO na stabilní RF referenční signál generovaný z vysoce přesného oscilátoru (H-maser, GPSDO…). K zabránění tepelnému a mechanickému ovlivňování experimentálních sestav a optického hřebene při dlouhodobých experimentech je zároveň nanejvýš žádoucí v maximální možné míře omezit dobu pobytu osob v laboratoři. Tyto důvody nás vedly ke zkonstruování dálkově ovládaného systému pro dálkově pro dlouhodobou stabilizaci optického frekvenčního hřebene. V našem případě jsme stabilizovali optovláknový komb FC1500 od firmy Menlo Systems. Stabilizace probíhá ve dvou nezávislých smyčkách fázového závěsu. V první smyčce dochází k regulaci repetiční frekvence fs laseru, kde využíváme výstupní signál fotodetektoru monitorujícího výstup fs laseru jako zpětnou vazbu. V druhé smyčce regulujeme offsetovou frekvenci na základě zpětné vazby zprostředkované výstupním signálem f-2f interferometru. Regulace je realizována ve dvou řádech. První řád tvořený rychlým regulátorem s obvodem AD9956 s omezeným rozsahem přeladění je doplněn pomalejším regulátorem druhého řádu s velkým výstupním dynamickým rozsahem realizovaným s využitím digitálního signálového procesoru. Elektronika je připojena na komunikační sběrnici CAN, což umožňuje vzdáleně ovládat celé zařízení z prostředí LabView. Optical frequency synthesizers (femtosecond combs) are used mainly in the field of precise measurement of optical frequencies, laser spectroscopy and interferometer distance surveying. The repetition and offset frequencies belong to main controlled parameters of such synthesizer. These two parameters need to be locked to ultra-stable frequency standards i.e. H-masers, Cs- or Rb- clocks. We present the complete digital signal processing chain for phase-locked loop (PLL) control of the repetition and offset frequency. The setup is able to overcome some dropouts causes the femtosecond laser instabilities. The presented work gives the possibility of long-time operation of femtosecond combs which is necessary when the optical frequency stability measurement of ultra-stable lasers is performed.
Keywords:
analog and digital electronics; signal processing; femtosecond laser
Available at various institutes of the ASCR
Elektronika pro stabilizaci optických frekvenčních hřebenů
Většina experimentů využívajících optický hřeben (komb) vyžaduje frekvenční a fázové zavěšení repetiční frekvence frep a offsetové frekvence fCEO na stabilní RF referenční signál generovaný z vysoce ...
Fázové masky vyrobené elektronovou litografií a iontovým leptáním pro přípravu vláken s braggovými mřížkami
Krátký, Stanislav; Urbánek, Michal; Kolařík, Vladimír; Horáček, Miroslav; Chlumská, Jana; Matějka, Milan; Šerý, Mojmír; Mikel, Břetislav
2014 - Czech
Braggovská vláknová mřížka je založena na principu lokální změny indexu lomu ve vlákně optického vlákna. Má širokou aplikační oblast, používá se např. pro různé typy filtrů v komunikacích, může se též použít v oblasti snímačů mechanického namáhání. Pro přípravu tohoto typu mřížek lze použít různé technologie. Například, index lomu je možné modifikovat přímo při výrobě optického vlákna. Dále, mřížka může být exponována bod po bodu laserovým svazkem. Nejefektivnějším způsobem je expozice přes fázovou masku, neboť jednu masku lze použít pro výrobu stovek mřížek (i když kvalita masky se při expozicích postupně snižuje, ačkoliv je připravena v křemenném skle). Tento příspěvek se zabývá různými přístupy pro přípravu fázových masek z pohledu vlivu na kvalitu exponovaných Braggovských mřížek. Mřížková fázová maska je definována zejména dvěma parametry; periodou a hloubkou (předpokládáme střídu 1:1 mezi výstupky a prohlubněmi mřížky). Fiber Bragg grating is based on the local changes of refractive index in the core of the optical fiber. It has a wide application area, e.g. different types of filters in communications, and it may also be used in sensing of mechanical stresses. One can use different technologies to prepare this type of grating, e.g. the refractive index can be modified directly during production of an optical fiber. Further, the grating may be exposed point by point by a laser beam. The most effective way is an exposure through a phase mask, since a mask may be used for the production of hundreds of grids. This paper discusses different approaches for the preparation of phase masks in terms of impact on the quality of the exposed Bragg grating. The lattice phase mask is defined mainly by two parameters; period and depth.
Keywords:
electron beam lithography; industrial holography
Available at various institutes of the ASCR
Fázové masky vyrobené elektronovou litografií a iontovým leptáním pro přípravu vláken s braggovými mřížkami
Braggovská vláknová mřížka je založena na principu lokální změny indexu lomu ve vlákně optického vlákna. Má širokou aplikační oblast, používá se např. pro různé typy filtrů v komunikacích, může se též ...
50-leté výročí He-Ne laserů c Československu
Kršek, Jiří
2014 - Czech
Příspěvek je věnován všem účastníkům prvního laserového setkání v r. 1963 na zámku ČSAV v Liblicích, jmenovitě zakladateli tohoto oboru v Československu dr. K. Pátkovi a hlavně všem pracovníkům oddělení kvantových generátorů světla Ústavu přístrojové techniky ČSAV v Brně, jmenovitě in memoriam vedoucímu projektu F.Petrů, kolegům V.Bočkovi a B. Popelovi a také Z. Knittlovi z ÚVOJM Meopta, Přerov, kteří se zasloužili o rychlou realizaci prvního plynového He-Ne laseru v Československu již téhož roku, vybuzením stimulované emise koherentního laserového záření dne 16. října 1963. Z pověření kolegia fyziky svolal Ústav přístrojové techniky na 16. dubna 1963 do ÚRE ČSAV koordinační poradu o laserech za přítomnosti pracovníků AsÚ, FzÚ, ÚPT, ÚRE, VÚVET, VÚST, VÚ 011, ÚVOJM, ČVUT. Bylo dohodnuto, že ÚPT a VÚVET budou zajišťovat laserovou přístrojovou techniku. Karel Pátek, vynikající a dodnes citovaný český badatel v oboru optických vlastností pevných látek, v roce 1963 na půdě tehdejšího Fyzikálního ústavu ČSAV zprovoznil první prototyp laseru v Československu. Pátek si pro svůj laser zvolil aktivní prostředí neodymového skla. Ve stejném roce, na podzim 16. října 1963, byl vyvinut další laser, jehož aktivním prostředím byla plynná směs helia a neonu. Tento He-Ne laser sestavil v brněnském Ústavu přístrojové techniky kolektiv Františka Petrů za účasti Vlastislava Bočka, Bohumíra Popely a Jiřího Krška. Tento laser pracoval v blízké IČ oblasti na vlnové délce 1152,3nm a hned příští rok 8. dubna 1964 byl spuštěn He-Ne laser na 632,8nm ve viditelné oblasti spektra. V roce 1964 byly předány výsledky výzkumu a vývoje do n.p. Meopta, Přerov. Již v roce 1964 byly tyto lasery vystaveny na MSV v Brně a Meopta těchto laserů vyrobila asi 100 kusů, než jejich výrobu v roce 1968 zastavila. Lasery se pomalu dostávaly do různých oblastí výzkumu a průmyslu a tento trend pokračuje i dnešních časech. The first seminar in Czechoslovakia to New Sources of Light ( Quantum Generators of Light ) took place at Liblice Castle, Central Bohemia, in March of 1963 and on October 16th the same year of 1963 the HeNe laser was placed into operation at the Institute of Scientific Instruments of the ASCR ( ISI ASCR ) in Brno, Czech Republic. The article presented the achievements of HeNe lasers at ISI ASCR in Brno, accompanied by historic photos, their specified applications and routes to production through the manufacturingprocess at the national companies of Meopta located in Prerov and Metra in Blansko.
Keywords:
HeNe lasers; laserinterferometers; applications and production of HeNe lasers
Available at various institutes of the ASCR
50-leté výročí He-Ne laserů c Československu
Příspěvek je věnován všem účastníkům prvního laserového setkání v r. 1963 na zámku ČSAV v Liblicích, jmenovitě zakladateli tohoto oboru v Československu dr. K. Pátkovi a hlavně všem pracovníkům ...
Od pouhého tlačení po třídění mikročástic a skládání mikrorobotků světlem
Zemánek, Pavel; Arzola, Alejandro V.; Brzobohatý, Oto; Chvátal, Lukáš; Jákl, Petr; Kaňka, Jan; Karásek, Vítězslav; Šerý, Mojmír; Šiler, Martin
2014 - Czech
Již Johannes Kepler při pozorování komet vyvodil, že světlo může působit pozorovatelnou silou na mikročástice. Dnes je toto tlačení objektů světlem využíváno jako levný zdroj pohonu pro sluneční plachetnice. V mikrosvětě je téměř třicet let je znám nástroj zvaný optická pinzeta, který k zachycení a přemístění mikroobjektů využívá silně fokusovaného laserového svazku. Nicméně přitahování objektů světlem směrem ke zdroji záření patřilo dlouhá léta do říše sci-literatury. V posledních letech byla publikována řada teoretickým návrhů, jak tohoto efektu docílit, pouze zlomek z nich byl však demonstrován experimentálně a dva z nich v naší laboratoři. Jedná se o tzv. světelné tažné svazky, které umožňují transport mikroobjektů proti směru proudu fotonů. Podařilo se nám ukázat, že experimentální sestava umožňuje rovněž velmi efektivně separovat desítky mikročástic pouhým ozářením suspenze laserem. Vzájemná interakce mezi více ozářenými částicemi vede k vytvoření vazby mezi nimi, která je zprostředkována rozptýlenými fotony. Tato optická vazba je velmi slabá, ale postačuje k samovolnému vytvoření mikrostruktur z jednotlivých původně volných mikročástic. Vytvořené mikrostruktury se ve světelném poli tažného svazku chovají zcela odlišně jednotlivé volné částice a mohou se i pohybovat opačným směrem. Osvícením suspenze částic vhodně rozloženým světelným polem je pak možné nejen samovolně sestavit mikrostruktury, ale též je cíleně dopravit na určité místo ozářené plochy – a to je již zárodek budoucích mikrorobotků sestavených a poháněných světlem. We demonstrate the recent progress in the field of optical micromanipulation. We start with the classical applications of solar sail propelled by the radiation pressure and approach the recent ones dealing with optical tractor beams, optical binding and sorting of microobjects. The pioneering attempts to assemble a microrobot by light is presented.
Keywords:
optical micromanipulation
Available at various institutes of the ASCR
Od pouhého tlačení po třídění mikročástic a skládání mikrorobotků světlem
Již Johannes Kepler při pozorování komet vyvodil, že světlo může působit pozorovatelnou silou na mikročástice. Dnes je toto tlačení objektů světlem využíváno jako levný zdroj pohonu pro sluneční ...
NRGL provides central access to information on grey literature produced in the Czech Republic in the fields of science, research and education. You can find more information about grey literature and NRGL at service web
Send your suggestions and comments to nusl@techlib.cz
Provider
Other bases